Zobrazeno 1 - 11 z 11
Rok: 2000
Kostková pila DISco DFD 641 Repasovaný stav, Prodávám v dobrém funkčním stavuRok: 2016
Část Etiketovací stanice KRONES X (LS X)), POUŽITÁRok: 2002
Stav nástroje Běžící destičky Velikost plátku 300 mm Fab sekce tenký film Popis majetku Výrobce SE mainframe a 3 komory Verze softwaru B3.9_56 CIM SECS, GEM Proces BD i, BD i, BDIIx Konfigurace hardwaru (fab): Hlavní výrobce systému SE - 1 Handler System 2 roboty FI a 1 robot MF - 3 Tovární rozhraní FOUP - 2 Konfigurace hardwaru (subfab …Rok: 2014
Hitachi (Semiconductor) RS-6000 SEM – Kontrola defektů (DR) Aktuálně konfigurováno pro velikost plátku 300 mm Datum MFG: 25. července-14 PODROBNOSTI VYBAVENÍ: Model: RS6000E s doplňky Funkce iPQ A-1 Hlavní systém RS6000E VR25 (Použití 300mm Wafer, AC208V/60Hz) včetně: - 2 držáky destiček (pro 300 mm) - Funkce ADR (Auto Defect Review). - 3 druhy systému získávání obrazu - SE/Left/Right Image - …Rok: 1995
Canon fpa-1550m4w 1995 Velikost oplatky 6Rok: 2000
Hitachi Kokusai Electric VR-120S 2000 Velikost oplatky 12Rok: 2005
Charakterizace oplatky Metrologické vybavení Aktuálně konfigurováno pro: 300 mm Asset HDD není součástí dodávky Charakteristika waferu WAFS001 KLAT TVAR WAFERSITE/PLOCHOST Stav: Nástroj byl vypnut a přesunut do úložiště na místě. Konfigurace: Audit pro ověření. Standardní konfigurace systému Oboustranné interferometrické měřidlo rovinnosti a tvaru Semi M49 režim Režim emulace 2mm kapacitní sondy Kapacitní tloušťkoměr s návazností blok automatického masteringu Automatizace plátků …